|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Aperiodic W/B4C multilayer systems for X-ray optics: Quantitative determination of layer thickness by HAADF-STEM and X-ray reflectivity |
| Auteur: |
Häussler, D. Morawe, Ch. Roß, U. Ögüt, B. Spiecker, E. Jäger, W. Hertlein, F. Heidorn, U. Wiesmann, J. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 204 (2010) nr. 12-13 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |