|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanostructure characterization in single and multi layer yttria stabilized zirconia films using XPS, SEM, EDS and AFM |
| Auteur: |
Espitia-Cabrera, I. Orozco-Hernández, H.D. Bartolo-Pérez, P. Contreras-García, M.E. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 203 (2008) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |