|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 108 van 135 gevonden artikelen
| Titel: |
Reduction of oxide leakage currents of EEPROM at STI corners using sacrificial oxide/liner SiN/LPCVD MTO |
| Auteur: |
Kim, M.S. Roh, Y. Park, C.S. Cho, I.S. Jeoun, I.H. Ahn, E.Y. Kim, B.H. Kim, K.J. Nam, S.K. Park, H.S. Nam, D.W. Baek, C.Y. Park, W.H. Kim, B.H. Park, S.W. Kim, M.S. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 202 (2008) nr. 22-23 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 108 van 135 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |