|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction measurement of residual stress and crystal orientation in Au/NiCr/Ta films prepared by plating |
| Auteur: |
Tang, Wu Deng, Longjiang Xu, Kewei Lu, Jian |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 201 (2007) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |