|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of proof stress and strain-hardening exponent for thin film with biaxial residual stresses by in-situ XRD stress analysis combined with tensile test |
| Auteur: |
Qin, M. Ji, V. Wu, Y.N. Chen, C.R. Li, J.B. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 192 (2005) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |