Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
 
 
  An in situ/ex situ X-ray analysis system for thin sputtered films
 
 
Titel: An in situ/ex situ X-ray analysis system for thin sputtered films
Auteur: Malhotra, A.K.
Whitacre, J.F.
Zhao, Z.B.
Hershberger, J.
Yalisove, S.M.
Bilello, J.C.
Verschenen in: Surface & coatings technology
Paginering: Jaargang 110 (1998) nr. 1-2 pagina's 6 p.
Jaar: 1998
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science S.A.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland