|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
An in situ/ex situ X-ray analysis system for thin sputtered films |
| Auteur: |
Malhotra, A.K. Whitacre, J.F. Zhao, Z.B. Hershberger, J. Yalisove, S.M. Bilello, J.C. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 110 (1998) nr. 1-2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| volgende >> |