|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved package reliability of AlGaN/GaN HFETs on 150mm Si substrates by SiNx/polyimide dual passivation layers |
| Auteur: |
Oh, Seung Kyu Jang, Taehoon Jo, Young Je Ko, Hwa-Young Kwak, Joon Seop |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 307 (2016) nr. PB pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |