|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Diffusion maps based k-nearest-neighbor rule technique for semiconductor manufacturing process fault detection |
| Auteur: |
Li, Yuan Zhang, Xinmin |
| Verschenen in: |
Chemometrics and intelligent laboratory systems |
| Paginering: | Jaargang 136 (2014) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |