|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profiling of multilayered samples and comparisons of secondary ion and laser desorption mass spectra in the same instrument |
| Auteur: |
Hand, Owen W. Emary, W.Bart Winger, Brian E. Cooks, R.Graham |
| Verschenen in: |
International journal of mass spectrometry and ion processes |
| Paginering: | Jaargang 90 (1989) nr. 2 pagina's 22 p. |
| Jaar: |
1989 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| volgende >> |