|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 409 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic force microscopy study of sputter-induced topography on silver-coated silicon by a defocused beam of argon neutrals |
| Auteur: |
Dümmler, W. Maloufi, N. Weber, S. Těte, C. Scherrer, S. |
| Verschenen in: |
International journal of mass spectrometry and ion processes |
| Paginering: | Jaargang 173 (1998) nr. 1-2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 409 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |