|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the residual stress depth profile of uniaxial compacted ruthenium powder samples by X-ray diffraction |
| Auteur: |
Angerer, P. Neubauer, E. Yu, L.G. Khor, K.A. |
| Verschenen in: |
International journal of refractory metals and hard materials |
| Paginering: | Jaargang 27 (2009) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |