|
Atomic layer chemical vapor deposition of SiO2 thin films using a chlorine-free silicon precursor for 3D NAND applications |
|
|
|
Titel: |
Atomic layer chemical vapor deposition of SiO2 thin films using a chlorine-free silicon precursor for 3D NAND applications |
Auteur: |
Baek, GeonHo Baek, Ji-hoon Kim, Hye-mi Lee, Seunghwan Jin, Yusung Park, Hyung Soon Kil, Deok-Sin Kim, Sangho Park, Yongjoo Park, Jin-Seong |
Verschenen in: |
Ceramics international |
Paginering: |
Jaargang 47 () nr. 13 pagina's 19036-19042 |
Jaar: |
2021 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd and Techna Group S.r.l. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|