|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 73 van 205 gevonden artikelen
| Titel: |
Focused ion beam preparation and microscopy investigation of secondary layer on carbon-bonded alumina filter after steel contact |
| Auteur: |
Storti, Enrico Berek, Harry Aneziris, Christos G. |
| Verschenen in: |
Ceramics international |
| Paginering: | Jaargang 44 () nr. 12 pagina's 14502-14509 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd and Techna Group S.r.l. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 73 van 205 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |