|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Measuring technological patent scope by semantic analysis of patent claims – An indicator for valuating patents |
| Auteur: |
Wittfoth, Sven |
| Verschenen in: |
World patent information |
| Paginering: | Jaargang 58 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |