|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative depth-profiling analysis of nanometer-metal multilayers by ion-probing techniques |
| Auteur: |
Escobar Galindo, R. Gago, R. Albella, J.M. Escobar Galindo, R. Gago, R. Lousa, A. |
| Verschenen in: |
TrAC trends in analytical chemistry. [Regular ed.] |
| Paginering: | Jaargang 28 (2009) nr. 4 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |