|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A theoretical analysis on cloning the failed test cases to improve spectrum-based fault localization |
| Auteur: |
Zhang, Long Yan, Lanfei Zhang, Zhenyu Zhang, Jian Chan, W.K. Zheng, Zheng |
| Verschenen in: |
Journal of systems and software |
| Paginering: | Jaargang 129 (2017) nr. C pagina's 23 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |