|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
An investigation of the hydrogenated Si-SiO2 interface by X-ray diffraction |
| Auteur: |
Rzhanov, A.E. Filippov, V.I. Chaplanov, V.A. Yakimov, S.S. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 6 (1988) nr. 5-6 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| volgende >> |