|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Lattice parameter measurement of sub-micron device structures in compound semiconductors via convergent-beam electron diffraction |
| Auteur: |
Twigg, M.E. Chu, S.N.G. Joy, D.C. Maher, D.M. Macrander, A.T. Chin, A.K. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 6 (1987) nr. 1-2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |