|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of thermal stress in Pd2Si film on Si(111) by absorption edge contour mapping |
| Auteur: |
Chen, Haydn White, G.E. Stock, S.R. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 4 (1986) nr. 2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |