|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural characterization of silicon films deposited at low temperature by remote plasma enhanced chemical vapor deposition |
| Auteur: |
Li, Xiaodong Park, Young-Bae Kim, Dong-Hwan Rhee, Shi-Woo |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 24 (1995) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |