|
Determination of N-polar AlN/GaN heterojunction valance-band offsets by X-ray photoelectron spectroscopy |
|
|
|
Titel: |
Determination of N-polar AlN/GaN heterojunction valance-band offsets by X-ray photoelectron spectroscopy |
Auteur: |
Du, Jin-Juan Xu, Sheng-Rui Zhang, Jin-Cheng Li, Pei-Xian Lin, Zhi-Yu Zhao, Ying Peng, Ruo-Shi Fan, Xiao-Meng Tao, Hong-Chang Hao, Yue |
Verschenen in: |
Materials letters |
Paginering: |
Jaargang 230 () nr. C pagina's 135-138 |
Jaar: |
2018 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|