|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 59 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale structural damage due to focused ion beam milling of silicon with Ga ions |
| Auteur: |
Salvati, E. Brandt, L.R. Papadaki, C. Zhang, H. Mousavi, S.M. Wermeille, D. Korsunsky, A.M. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 213 (2018) nr. C pagina's 346-349 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 59 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |