|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 47 van 58 gevonden artikelen
| Titel: |
Stress and thermal characterization of 4H-SiC microelectromechanical structures |
| Auteur: |
Wells, Colton Jiang, Jheng-Yi Chang, Ting-Fu Huang, Chih-Fang Ke, Jiaxin Luo, Weijun Xia, Guangrui Cheong, Kuan Yew Zhao, Feng |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 191 (2017) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 47 van 58 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |