|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic force microscopy (AFM) and 3D confocal microscopy as alternative techniques for the morphological characterization of anodic TiO2 nanoporous layers |
| Auteur: |
Oyarzún, Diego P. Linarez Pérez, Omar E. López Teijelo, Manuel Zúñiga, César Jeraldo, Eduardo Geraldo, Daniela A. Arratia-Perez, Ramiro |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 165 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |