|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron energy-loss spectroscopy as an analytical tool in the study of TiSi2/Si interfaces |
| Auteur: |
Shulga, Yu.M. Glebovsky, V.G. Dulinets, Yu.Ch. Rubtsov, V.I. Borodko, Yu.G. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 15 (1993) nr. 5-6 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |