|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profile XRD analysis for characterisation of solid-state amorphisation in the bilayer nickel-titanium system |
| Auteur: |
Shankar, P. Sundararaman, D. Raghunathan, V.S. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 14 (1992) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |