|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Seeman-Bohlin X-ray diffraction study of Al-1 %Si thin films used in ULSI devices |
| Auteur: |
Dapor, M. Cicolini, G. Giacomozzi, F. Boscardin, M. Queirolo, G. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 13 (1992) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |