|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 83 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM analysis of Si thin films prepared by diode laser induced solid phase epitaxy at high temperatures |
| Auteur: |
Schmidt, T. Lábár, J.L. Falk, F. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 122 (2014) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 83 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |