|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
An X-ray diffraction study of the effects of rapid thermal annealing on GaAs layers on Si substrates |
| Auteur: |
Varrio, J. Riesz, F. Lammasniemi, J. Hovinen, M. Pessa, M. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 10 (1990) nr. 1-2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |