|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 87 van 163 gevonden artikelen
| Titel: |
Full-chip leakage analysis for 65nm CMOS technology and beyond |
| Auteur: |
Xue, Jiying Li, Tao Deng, Yangdong Yu, Zhiping |
| Verschenen in: |
Integration |
| Paginering: | Jaargang 43 (2010) nr. 4 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 87 van 163 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |