|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Using immune designed ontologies to monitor disruptions in manufacturing systems |
| Auteur: |
Bayar, Nawel Darmoul, Saber Hajri-Gabouj, Sonia Pierreval, Henri |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 81 (2016) nr. C pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| << vorige |