|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
3DComplete: Efficient completeness inspection using a 2.5D color scanner |
| Auteur: |
So, Edmond Wai Yan Munaro, Matteo Michieletto, Stefano Tonello, Stefano Menegatti, Emanuele |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 64 (2013) nr. 9 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |