|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Integration of machine-vision inspection information for best-matching of distributed components and suppliers |
| Auteur: |
Velasquez, Juan D. Nof, Shimon Y. |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 59 (2008) nr. 1 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |