|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhanced detection of unknown defect patterns on wafer bin maps based on an open-set recognition approach |
| Auteur: |
Shin, Jin-Su Kim, Min-Joo Kim, Beom-Seok Lee, Dong-Hee |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |