|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 70 van 96 gevonden artikelen
| Titel: |
Intelligent segmentation method for real-time defect inspection system |
| Auteur: |
Chiou, Yih-Chih |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 61 (2010) nr. 7 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 70 van 96 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |