|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A deep learning approach to condition monitoring of cantilever beams via time-frequency extended signatures |
| Auteur: |
Onchis, Habil. Darian M. |
| Verschenen in: |
Computers in industry |
| Paginering: | Jaargang 105 (2019) nr. C pagina's 177-181 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |