|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness measurement and crease detection of wheat grains using stereo vision |
| Auteur: |
Sun, Changming Berman, Mark Coward, David Osborne, Brian |
| Verschenen in: |
Pattern recognition letters |
| Paginering: | Jaargang 28 (2007) nr. 12 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 24 gevonden artikelen
| << vorige |