|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
A Hough transform technique for the detection of reflectional symmetry and skew-symmetry |
| Auteur: |
Yip, Raymond K.K |
| Verschenen in: |
Pattern recognition letters |
| Paginering: | Jaargang 21 (2000) nr. 2 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| volgende >> |