|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Polycrystalline silicon wafer defect segmentation based on deep convolutional neural networks |
| Auteur: |
Han, Hui Gao, Chenqiang Zhao, Yue Liao, Shisha Tang, Lin Li, Xindou |
| Verschenen in: |
Pattern recognition letters |
| Paginering: | Jaargang 130 () nr. C pagina's 234-241 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |