|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 4 gevonden artikelen
| Titel: |
Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents |
| Auteur: |
Cerotti, Davide Miele, Antonio Gribaudo, Marco Bobbio, Andrea Bolchini, Cristiana |
| Verschenen in: |
Performance evaluation |
| Paginering: | Jaargang 132 (2019) nr. C pagina's 21-37 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 4 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |