|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
One scan based high average-utility pattern mining in static and dynamic databases |
| Auteur: |
Kim, Jongseong Yun, Unil Yoon, Eunchul Lin, Jerry Chun-Wei Fournier-Viger, Philippe |
| Verschenen in: |
Future generation computer systems |
| Paginering: | Jaargang 111 () nr. C pagina's 143-158 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |