|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterizing width two for variants of treewidth |
| Auteur: |
Bodlaender, Hans L. Kratsch, Stefan Kreuzen, Vincent J.C. Kwon, O-joung Ok, Seongmin |
| Verschenen in: |
Discrete applied mathematics |
| Paginering: | Jaargang 216 (2017) nr. P1 pagina's 18 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 79 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |