|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
A goodness-of-fit test based on neural network sieve estimators |
| Auteur: |
Shen, Xiaoxi Jiang, Chang Sakhanenko, Lyudmila Lu, Qing |
| Verschenen in: |
Statistics & probability letters |
| Paginering: | Jaargang 174 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |