|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel exact method for significance of higher criticism via Steck’s determinant |
| Auteur: |
Miecznikowski, Jeffrey C. Wang, Jiefei Gaile, Daniel P. Tritchler, David L. |
| Verschenen in: |
Statistics & probability letters |
| Paginering: | Jaargang 130 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |