|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 140 van 183 gevonden artikelen
| Titel: |
Phase characterization of Li-Si systems using X-ray photoelectron spectroscopy |
| Auteur: |
Bebsh, M. Haimeur, A. França, R. |
| Verschenen in: |
Dental materials |
| Paginering: | Jaargang 33 (2017) nr. S1 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 140 van 183 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |