|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 55 van 297 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Ta and TaN diffusion barriers beneath Cu layers using picosecond ultrasonics |
| Auteur: |
Bryner, Juerg Profunser, Dieter M. Vollmann, Jacqueline Mueller, Elisabeth Dual, Juerg |
| Verschenen in: |
Ultrasonics |
| Paginering: | Jaargang 44 (2006) nr. S pagina's nvt p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 55 van 297 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |