|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Probing the limits of full-field linear local defect resonance identification for deep defect detection |
| Auteur: |
Segers, Joost Hedayatrasa, Saeid Poelman, Gaétan Van Paepegem, Wim Kersemans, Mathias |
| Verschenen in: |
Ultrasonics |
| Paginering: | Jaargang 105 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |