|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs |
| Auteur: |
Jürimägi, Lembit Ubar, Raimund Jenihhin, Maksim Raik, Jaan |
| Verschenen in: |
Microprocessors and microsystems |
| Paginering: | Jaargang 77 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |