|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the dependence of indium–gallium–zinc oxide thin-film transistor properties on the gate interface material using a two-stack gate-insulator structure |
| Auteur: |
Park, Jae Chul Park, Tae Kwang Lee, Ho-Nyeon |
| Verschenen in: |
Displays |
| Paginering: | Jaargang 39 (2015) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |