|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS) for the characterization of surface components in mineral particulates |
| Auteur: |
Ham, Rita Van Vaeck, Luc Van Adriaens, Annemie Adams, Freddy Hodges, Brittany Gianotto, Anita Avci, Recep Appelhans, Anthony Groenewold, Gary |
| Verschenen in: |
Talanta |
| Paginering: | Jaargang 69 (2006) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |